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在該工作中，現(xiàn)有的圓柱形電極差分遷移的納米粒度儀（DMA）和矩形板電極的新型DMA用于在高氣溶膠流速下對納米顆粒進(jìn)行尺寸分級。兩種DMA能夠以200slm至500slm的氣體流速輸送單分散尺寸的所選納米顆粒（SMPSσg<1.1）。在200slm的氣溶膠流速下，圓柱形DMA的最大可達(dá)到的顆粒平均尺寸為約20nm，而矩形板DMA的最大可達(dá)顆粒平均尺寸為約50nm。由高流量DMA輸送的單分散納米顆粒的數(shù)量濃度范圍為104 cm-3至106 cm-3，具體取決于顆粒平均尺寸和顆粒尺寸分散。版權(quán)所有2014美國氣溶膠研究協(xié)會。

納米粒度儀（PSA）和掃描電子顯微鏡（SEM）和UV-可見分光光度計表征合成的產(chǎn)物。 XRD圖譜證實了合成樣品的四方結(jié)構(gòu)。使用Debye-Scherrer公式從X射線譜展寬確定合成的納米顆粒的平均微晶尺寸。通過溶膠 - 凝膠法合成未摻雜和摻雜銀的TiO 2納米顆粒（Ti 1-x Ag x O 2，其中x = 0.00-0.10）。通過X射線衍射（XRD），隨著煅燒溫度從300℃升高到800℃，微晶尺寸在8到33nm之間變化。與未摻雜的TiO 2相比，摻入3至5％Ag +代替Ti 4+引起納米晶體尺寸的減小。 SEM顯微照片顯示顆粒的團(tuán)聚球形形態(tài)。 SEM，PSA和XRD測量顯示粉末的顆粒尺寸為納米級。光學(xué)吸收測量表明在銀摻雜時吸收帶邊緣發(fā)生紅移。通過UV-Vis光譜儀測量的未摻雜和Ag摻雜的TiO 2納米顆粒的直接允許帶隙在500℃下分別為3.00和2.80eV。